差熱分析儀的差熱分析(DTA)法是一種重要的熱分析方法，是指在程序控溫下，測量物質(zhì)和參比物的溫度差與溫度或者時間的關系的一種測試技術。該法廣泛應用于測定物質(zhì)在熱反應時的特征溫度及吸收或放出的熱量，包括物質(zhì)相變、分解、化合、凝固、脫水、蒸發(fā)等物理或化學反應。
 

　　差熱分析法由于具有諸多優(yōu)勢，已成為材料研究中*的測試方法，隨著科研需求的擴大和儀器制造技術的進步，差熱分析法會有更大的發(fā)展。
 

　　差熱分析儀的分析中差熱形成原因主要包括物理因素；化學因素；自身因素；實驗、參比物、稀釋劑以及實驗條件因素。
 

　　1.物理因素
 

　　吸熱峰：熔融、晶型轉變、液晶轉變、固化點準備、蒸發(fā)汽化、升華、吸收、吸水、解吸附；
 

　　放熱峰：結晶；晶型轉變；吸附；凝聚、凝固。
 

　　2.化學因素
 

　　吸熱峰：氣氛中還原、氧化還原反應、固態(tài)反應、脫水、脫溶劑化、液固異相反應；
 

　　放熱峰：在氣氛中氧化、氧化還原反應、固態(tài)反應、化學吸附、聚合、樹脂預固化、燃燒、爆炸反應液固異相反應、催化反應。
 

　　3.本身因素
 

　　如爐子大小、幾何位置配置、樣品物和參比物支持器的材質(zhì)、幾何位置配置是否對稱、匹配，熱電偶導線的粗細、節(jié)點的大小等因素，可以影響基線的形狀、高低，進而影響放熱峰、吸熱峰的判斷、起始溫度、終了溫度、峰面積等。
 

　　4.實驗條件影響
 

　　與樣品、參比物、稀釋劑的性質(zhì)、用量、顆粒度、裝填堆積狀態(tài)等有關的因素也能夠影響實驗曲線。實驗過程中的實驗條件，如設定升溫速率、爐內(nèi)氣氛等也會影響基線、實驗曲線，進而涉及到放熱峰和吸熱峰。
 

　　試樣的用量與顆粒度在100-200目左右，顆粒小可以改善導熱條件，但太細可能會破壞樣品的結晶度。對易分解產(chǎn)生氣體的樣品，顆粒應大一些。參比物的顆粒、裝填情況及緊密程度應與試樣一致，以減少基線的漂移。
 

　　樣品量小有利于氣體產(chǎn)物擴散，相鄰峰(平臺)分離能力增強，DSC峰形也較小。樣品量大能增大DSC檢測信號，峰形加寬，峰值溫度向高溫漂移，峰分離能力下降，氣體產(chǎn)物擴散亦稍差。